ABB推出用于质量控制系统的光学厚度传感器

　　2009年5月14日，ABB在爱尔兰的Dundalk推出了极富创新性的光学厚度传感器。ABB在光学技术革命的基础上研发了这种十分精准和稳定的在线检测传感器。

　　精确的厚度测量和控制对于纸张的质量和满足客户需要是至关重要的，传统上这是通过两面接触厚度传感器实现的，但某些特殊的纸张生产对传统的接触式测量技术提出了严峻的挑战。为此，纸张的生产者一直寻求一种新的厚度测量方式以克服接触式厚度测量的不足之处。

　　ABB新推出的光学厚度传感器是非接触式在线测量传感器，不使用激光所用的三角测量法，避免了激光穿透纸张表面引起的测量误差。新的传感器，采用了不同的方法，极大的改善了测量精度和稳定性。此传感器的应用有着卓越的表现,可以满足传统的厚度传感器不能满足的要求。光学厚度传感器基于共焦移位测量技术。近来这种技术促进了显微方法，薄膜研究和半导体制造业的新发展。

　　这种新的传感器，是ABB领导在线纸张质量测量50年来的最新产品，最终提供给纸张生产者的是精确的测量和控制厚度的工具，即使要求相当苛刻的纸种也是如此。